Kombination OptiCon - AOI mit JTAG/Boundary Scan

Die Automatische Optische Inspektion stösst natürlich an Grenzen. Einerseits ist es nicht möglich „unter” ein Bauteil (etwa BGA) zu schauen, andererseits ist keine Überprüfung der elektrischen Eigenschaften eines ICs möglich.

Die Lösung ist eine Kombination von AOI mit Boundary Scan. Boundary Scan schliesst nicht nur die Lücke beim AOI-System hinsichtlich Funktionsüberprüfung der Bauteile, sondern ermöglicht auch Tests von optisch nicht prüfbaren Bauelementen. Da Boundary Scan zum Testen einer Flachbaugruppe lediglich einen Anschluss für den Testbus benötigt, kann dieser Test ohne Probleme in das AOI-System integriert werden.

Die Kombination Boundary Scan/AOI ermöglicht eine Fehlerabdeckung von nahezu 100% bei vergleichbar minimalen Kosten.

Für die Kombination eines AOI-Systems mit Boundary Scan (JTAG) wird im Basis-PC des Systems ein Boundary Scan Controller integriert. Ein steuerbares Netzteil ermöglicht die kontrollierte Stromversorgung des Prüflings. Die Adaptierung des Testbusses und der Spannung kann über Steckverbinder oder flexible Nadeladapter erfolgen.

Vorteile: Sehr hohe Fehlerabdeckung Hohe Prüftiefe durch den Test verdeckter und komplexer Bauelemente über Boundary Scan (JTAG) Hohe Flexibilität, da kein prüflingsspezifischer Adapter benötigt wird Parallele Abarbeitung beider Testverfahren, damit reduzierte Prüfzeitrabdeckung Einfache Integration von BScan in AOI-Systemeerabdeckung Erhöhung der Fehlerabdeckung um optische Ausgabeeinheiten Beide Verfahren aus einer Hand, da GÖPEL electronic Technologietreiber für beide Prüfverfahren ist Durchführung von z. B. FLASH-Programmierung parallel zur optischen Inspektion

Erweiterter Boundary Scan

Für eine erhöhte Fehlerabdeckung können nicht prüfbare Pins mit einer virtuellen Boundary Scan Zelle kontaktiert werden. Dazu befindet sich eine Testnadel am Kamerakopf des AOI-Systems, welche den vollständigen Test peripherer Anschlüsse ermöglicht.